（独）産業技術総合研究所は、結晶シリコン太陽電池モジュールの出力低下を伴う劣化現象の抑制技術を開発したと発表した。近年、海外のメガソーラーでは、太陽電池モジュール・システムの出力が大幅に低下する現象（PID現象）が報告されている。この現象は、長期間での経年劣化とは異なり、数ヵ月から数年の比較的短期間でも起こりうるとされ、太陽光発電システムの長期信頼性を向上させ、導入を拡大するためには、PID現象のメカニズムを解明するとともに、低コストのPID対策技術を開発することが求められている。今回開発した技術は、太陽電池モジュールに用いられるガラス基板に酸化チタン系複合金属化合物の薄膜をコーティングし、PID現象の主原因とされるナトリウムイオンなどのガラス基板からの拡散を抑制するもの。この技術により結晶シリコン太陽電池モジュールの信頼性をさらに向上させ、今後、導入が加速すると予想されるメガソーラーなどの太陽光発電システムの長期信頼性の向上への貢献が期待されるという。