熊本大学とその共同研究グループは、電池や電子デバイス材料の広域X線吸収微細構造(EXAFS)について、「スパースモデリング」という技術を用いた振動スペクトル解析法を開発し、その有効性を検証した。これまでの振動スぺクトル解析では、物質の原子間の距離(動径分布)をフーリエ変換の公式や関数に基づいて計算し、ミクロ構造の知見を得ていた。しかしながら、実際の物質には、「構造ゆらぎ(原子と近接原子との間の距離のばらつき)」等が存在しており、フーリエ変換とは異なる高精度の解析手法が求められていた。今回、研究グループは、近接原子の配位が距離に対して「スパース(離散的、まばら)」である事実に着目し、近年では天文学、医学、工学で適用が進んでいる「スパースモデリング」を適用することで、測定データのみから原子周辺の構造などを解析できる新手法を開発した。新規材料研究や、電池の高機能化や長寿命化などへの貢献が期待できる成果であるという。
情報源 |
熊本大学 ニュース
九州シンクロトロン光研究センター 科学技術振興機構(JST) プレスリリース |
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機関 | 熊本大学 九州シンクロトロン光研究センター 科学技術振興機構(JST) 東京大学 |
分野 |
地球環境 環境総合 |
キーワード | 東京大学 | JST | CREST | 熊本大学 | スパースモデリング | ミクロ構造 | ゆらぎ解析 | EXAFS測定 | SAGA-LS |
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